CTRM700 是韓國?????所(suo)研發并(bing)由(you)韓國Nanoscope Systems 進行(xing)商業化運營的熱反(fan)射式激光共(gong)聚焦(jiao)顯(xian)微(wei)鏡。

CTRM 700 利用的是激光共聚焦掃描的方(fang)法測量(liang)樣品表面(mian)或(huo)內部特定表面(mian)上溫度變(bian)化引起(qi)的反射(she)率變(bian)化的分(fen)(fen)布來(lai)獲取樣品的熱分(fen)(fen)別圖像。

Principles & Benefits（性能(neng)及優勢）：

熱反射顯微鏡（Thermal Reflectance Microscope) 是(shi)一(yi)種基于測量樣(yang)品表面(mian)光反射率變化而測量樣(yang)品溫(wen)度變化的一(yi)種技術。

共聚(ju)焦(jiao)熱反射顯(xian)微技術(shu)是一(yi)種激光掃描共聚(ju)焦(jiao)方法，它可以在局部區域獲得比傳統熱成像技術(shu)（紅外成像技術(shu)）更(geng)高(gao)分辨率的熱成像圖像。

Application field（應用領(ling)域(yu)）：

半導體器件熱特性的測量(liang)與分(fen)析：

-柔性顯示面板缺陷(xian)檢查(cha)

-OLED內部缺陷檢查

-高輸出(chu)功率裝置發熱(re)特(te)性的測量與分析

-傳感(gan)器單元(yuan)的紅外(wai)圖(tu)像分析

-氧化物薄膜晶體管的(de)熱特(te)性

-3D堆(dui)疊(die)半導體熱特性的測(ce)量分析(xi)

-OLED 器件的熱(re)特性分析

-氣體傳感器的MEMS裝置的熱(re)特性測量和(he)分(fen)析

-InGaZnO薄膜晶體管的(de)發熱特(te)性及可靠性分(fen)析

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Specification（規格）