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Nanoscope Systems參加29屆ICANS國際會議

更新時間:2021-08-31      點擊次數:949

      2022823日至26日,Nanoscope Systems(納茲克股份有限公司)參加在南京舉辦的第29屆非晶和納米晶半導體國際會議(ICANS)會議, ICANS會議是學術研究人員、工業合作伙伴和政策制定者聚集并分享非晶和納米薄膜或其他納米結構材料最新進展的場所。

       自從1965年第一次布拉格會議開始,每兩年舉辦一次。由于疫情大流行的緣故,故29屆ICANS 推遲到2022823日。

      ICANS@Nanjing是國內的首場盛會,會議涵蓋非晶半導體材料體系的基礎物理、建模和表征技術、硅基、氧化物、有機、鈣鈦礦和二維薄膜和納米結構;廣泛的薄膜晶體管 (TFT)、太陽能電池、傳感器、發光二極管 (LED) 和存儲器,以及新興的柔性薄膜電子和神經形態應用。

       本次展會納茲克股份有限公司展出的產品有NS3500高速3D激光共聚焦顯微鏡以及便攜式拉曼光譜儀,NS3500 高速3D激光共聚焦顯微鏡是納茲克股份有限公司專門針對材料表征、芯片制造、OLED屏幕檢測所研發的一款高速3D激光共聚焦顯微鏡。


       展會上納茲克股份有限公司的技術工程師與參會的老師們針對OLED 顯示,芯片檢測等方面進行了深入的技術交流,并且在展會現場對器件進行了現場檢測展示。


      NS3500 采用405nm 紫羅蘭激光作為光源,Z軸方向采用高精度PZT 并且采用類似于連續斷層掃描攝影的方式獲得一張張2D的光學切片,然后再通過計算機上安裝的NSViewer軟件系統重新構建出一張3D圖像。高精度的PZT可以實現Z軸方向最小1nm移動精度,因此在太陽能電池、晶圓凸塊檢測、Wafer表面粗糙度、微納顆粒污染物以及芯片表面鍍膜厚度檢測方面有著廣泛的應用。





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