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NS-3500G 是一種(zhong)可(ke)靠的三(san)維(wei)非接觸式掃(sao)描儀。通過(guo)快速(su)光學(xue)掃(sao)描模塊和信(xin)號處理(li)算法實現實時(shi)共(gong)焦(jiao)顯微圖(tu)像。在測量和檢測微觀(guan)三(san)維(wei)結構，可(ke)以為半導體晶片，FPD產(chan)品，MEMS設備，玻璃基板，材料表面等提供(gong)各種(zhong)解決方(fang)案。
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