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NS3500高(gao)速(su)3D激(ji)光(guang)共聚焦顯微(wei)鏡(jing)是韓國Nanoscope Systems 公司專(zhuan)門為(wei)低維材料研究所研發(fa)的一款高(gao)速(su)3D顯微(wei)鏡(jing)。與(yu)傳統的3D探針輪廓儀相比較，NS3500使用405nm的激(ji)光(guang)作為(wei)光(guang)源，進行無(wu)損(sun)傷(shang)(shang)檢測，不(bu)與(yu)樣品的表(biao)面直接接觸，因此(ci)不(bu)會損(sun)傷(shang)(shang)樣品的表(biao)面，測量(liang)精(jing)度遠遠高(gao)于探針輪廓儀。

NS3600 激(ji)(ji)光三(san)維(wei)(wei)表(biao)面(mian)輪廓儀是韓國Nanoscope Systems 公司專門為低(di)維(wei)(wei)材(cai)料科學研究所研發的(de)一款激(ji)(ji)光共聚焦顯微鏡。NS3600 采用的(de)是638nm 的(de)激(ji)(ji)光作為光源，測(ce)(ce)量時無需與樣品表(biao)面(mian)接觸即可獲(huo)得樣品表(biao)面(mian)的(de)三(san)維(wei)(wei)測(ce)(ce)量數據，是進行材(cai)料表(biao)面(mian)檢測(ce)(ce)有效(xiao)的(de)工具。

NS3800高(gao)(gao)速3D激光共聚焦顯微(wei)(wei)鏡是韓國Nanoscope Systems 公司專門為(wei)低維材料研究所研發的(de)一款高(gao)(gao)速3D顯微(wei)(wei)鏡。與傳統的(de)3D探針(zhen)輪(lun)廓(kuo)儀相比較，NS3800使用(yong)405nm的(de)激光作為(wei)光源(yuan)，進行無損傷檢測，不與樣(yang)品的(de)表面直接接觸，因此(ci)不會損傷樣(yang)品的(de)表面，測量精(jing)度(du)遠遠高(gao)(gao)于探針(zhen)輪(lun)廓(kuo)儀。

NS-3500 Solar 是韓國(guo)Nanoscope Systems 針(zhen)對(dui)半導體晶圓(yuan)質量(liang)檢測(ce)設(she)計的一種準(zhun)確、可(ke)靠(kao)的測(ce)量(liang)系統，通過快速光(guang)學掃描模塊和信號處理(li)算法實(shi)現實(shi)時共焦顯微圖像(xiang)。使用(yong)(yong)高精度PZT，操作(zuo)簡便，擁有自(zi)動對(dui)焦、自(zi)動測(ce)量(liang)等功能。應用(yong)(yong)于半導體、太(tai)陽能。芯(xin)片、OLED等工業(ye)生產(chan)控制。可(ke)拓展在線(xian)檢測(ce)。

NS-3500是一種(zhong)(zhong)可靠的三維掃(sao)描系統。通過快速光學掃(sao)描模塊和(he)信號處理算法實現(xian)實時共焦顯微(wei)圖(tu)像。在測量(liang)和(he)檢測微(wei)觀(guan)三維結構，可以為(wei)半導體晶片，FPD產品，MEMS設備，玻璃基(ji)板(ban)，材料(liao)表面(mian)等(deng)提(ti)供(gong)各(ge)種(zhong)(zhong)解決方案。

NS-3500G 是一種可靠的三維(wei)非接觸(chu)式(shi)掃(sao)描(miao)儀。通過快速光學掃(sao)描(miao)模塊和信(xin)號處理算法實現實時共焦顯微圖像。在測量和檢(jian)測微觀三維(wei)結構，可以為半導體晶片，FPD產品，MEMS設備，玻(bo)璃基板(ban)，材料表面等提供各種解決方案(an)。

NS-3500L 是(shi)一種準確(que)、可(ke)靠(kao)的大面(mian)積(ji)高速(su)3D激(ji)光(guang)掃描儀。通(tong)過快速(su)光(guang)學掃描模塊和信號處理算法實現實時(shi)共焦顯微(wei)圖像。在測量和檢測微(wei)觀三維結(jie)構(gou)，可(ke)以(yi)為半導體晶片，FPD產品，MEMS設備，玻璃基(ji)板，材料表面(mian)等(deng)提(ti)供各種解決方案。