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  • NS3500高速3D激光共聚焦顯微鏡
    NS3500高速3D激光共聚焦顯微鏡

    NS3500高速3D激光共聚焦顯微鏡是韓國Nanoscope Systems 公司專門為低維材料研究所研發的一款高速3D顯微鏡。與傳統的3D探針輪廓儀相比較,NS3500使用405nm的激光作為光源,進行無損傷檢測,不與樣品的表面直接接觸,因此不會損傷樣品的表面,測量精度遠遠高于探針輪廓儀。

    時間:2020-08-27型號:NS3500訪問量:2494
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  • NS3600激光三維表面輪廓儀
    NS3600激光三維表面輪廓儀

    NS3600 激光三維表面輪廓儀是韓國Nanoscope Systems 公司專門為低維材料科學研究所研發的一款激光共聚焦顯微鏡。NS3600 采用的是638nm 的激光作為光源,測量時無需與樣品表面接觸即可獲得樣品表面的三維測量數據,是進行材料表面檢測有效的工具。

    時間:2022-10-10型號:NS3600訪問量:2553
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  • NS3800高速3D激光共聚焦顯微鏡
    NS3800高速3D激光共聚焦顯微鏡

    NS3800高速3D激光共聚焦顯微鏡是韓國Nanoscope Systems 公司專門為低維材料研究所研發的一款高速3D顯微鏡。與傳統的3D探針輪廓儀相比較,NS3800使用405nm的激光作為光源,進行無損傷檢測,不與樣品的表面直接接觸,因此不會損傷樣品的表面,測量精度遠遠高于探針輪廓儀。

    時間:2020-12-01型號:NS3800訪問量:2008
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  • NS3500 Solar 半導體晶圓質量檢測系統
    NS3500 Solar 半導體晶圓質量檢測系統

    NS-3500 Solar 是韓國Nanoscope Systems 針對半導體晶圓質量檢測設計的一種準確、可靠的測量系統,通過快速光學掃描模塊和信號處理算法實現實時共焦顯微圖像。使用高精度PZT,操作簡便,擁有自動對焦、自動測量等功能。應用于半導體、太陽能。芯片、OLED等工業生產控制。可拓展在線檢測。

    時間:2022-10-10型號:訪問量:1723
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  • NS3500 H 大面積高速三維成像掃描系統
    NS3500 H 大面積高速三維成像掃描系統

    NS-3500是一種可靠的三維掃描系統。通過快速光學掃描模塊和信號處理算法實現實時共焦顯微圖像。在測量和檢測微觀三維結構,可以為半導體晶片,FPD產品,MEMS設備,玻璃基板,材料表面等提供各種解決方案。

    時間:2022-10-10型號:訪問量:1794
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  • NS3500 G大型非接觸式3D激光掃描儀
    NS3500 G大型非接觸式3D激光掃描儀

    NS-3500G 是一種可靠的三維非接觸式掃描儀。通過快速光學掃描模塊和信號處理算法實現實時共焦顯微圖像。在測量和檢測微觀三維結構,可以為半導體晶片,FPD產品,MEMS設備,玻璃基板,材料表面等提供各種解決方案。

    時間:2022-10-10型號:NS3500 G訪問量:1014
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  • NS3500 L大面積高速3D激光掃描儀
    NS3500 L大面積高速3D激光掃描儀

    NS-3500L 是一種準確、可靠的大面積高速3D激光掃描儀。通過快速光學掃描模塊和信號處理算法實現實時共焦顯微圖像。在測量和檢測微觀三維結構,可以為半導體晶片,FPD產品,MEMS設備,玻璃基板,材料表面等提供各種解決方案。

    時間:2022-10-10型號:NS3500 L訪問量:1021
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